直读式铁损测试仪:DAC-IR-2C
Hits:57127
在线电阻温度双显示测定器:DAC-H
Hits:54752
自动西林电桥:SK-ASC-3C
Hits:54684
叠片定子铁芯磁性测试装置:LST-2
Hits:54464
直读式铁损测试仪(含串口微型打印机)
Hits:53562
在线线圈电阻温度测试仪:DAC-HR
Hits:53447
四通道切换控制箱:SK-HR-4CH
Hits:52042
新闻中心 网站首页 > 新闻中心
新闻内容
CHEE 2003浙江国际电子工业博览会暨浙江国际电子元器件、生产设备展览会
点击:4670 日期:2004-7-10
    2003年8月,我司参加了由浙江省电子学会上海申仕展览服务有限公司承办的CHEE 2003浙江国际电子工业博览会暨浙江国际电子元器件、生产设备展览会,此次展示范围有电子元器件、电子生产设备、电子测试、测量、仪器、仪表等。
 
友情链接: 浙江质检院  |   上海日立  |   UL美华认证  |   宁波新容  |   浙ICP备05034091号-1  |  
  您是本站第 位访客 !  
 CopyRight 2012 All Right Reserved 杭州总研电气有限公司   浙ICP备05034091号-1 浙公网安备 33010802009872号   
  地址:中国 杭州 滨江区伟业路高新软件园9号楼3F    联系电话:+86-571-86698056    传真:+86-571-86698057